Questões Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

No contexto da implementação física de um circuito integrado afirma-se o que segue. I. O efeito de eletromigração (EM) é decorrente da alta densidade de corrente e alternância de temperatura nas linhas de interconexão sendo uma das causas de ruptura ou falha mecânica das mesmas. II. O emprego de bibliotecas de células com múltiplos Vt (tensões de limiar dos transistores) objetiva a redução da corrente de fuga (leakage) em geometrias com canal mais curto. III. Efeitos de interferência entre trilhas de roteamento têm impacto no incremento do atraso na linha afetado degradando a integridade do sinal.

Uma infraestrutura de teste possui entre outros equipamentos um analisador de espectro e um osciloscópio para o teste paramétrico de sistemas. Podemos dizer que:

Num sistema de métricas, deve-se assegurar que foi identificado um conjunto de medidas suficiente para a solução do problema. Esse atributo da medida é chamado de

Num sistema de métricas, as medidas fáceis de coletar, analisar e entender estão associadas ao atributo

O teste de um sistema com 4 entradas necessita um conjunto de vetores de testes conforme mostrados abaixo.