Questões Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

#Questão 413965 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Na sintaxe da linguagem VerilogAMS, a rotina padrão vpi_chk_error( ) deve retornar uma constante inteira representando um nível de severidade de erro se a chamada anterior a uma rotina VPI (Verilog Procedural Interface) resultou em erro. Considerando as constantes de retorno de erro para a rotina vpi_chk_error( ), a que possui maior severidade é:

A) vpiNotice.

B) vpiWarning.

C) vpiInternal.

D) vpiError.

E) vpiSystem.

#Questão 413968 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Um flip-flop JK com J = 1 e K =1 recebe na entrada um relógio de 150 kHz. A saída Q é igual a

A) 1 (nível lógico alto constante).

B) uma onda quadrada de 75 kHz.

C) 0 (nível lógico baixo constante).

D) uma onda quadrada de 150 kHz.

E) uma onda quadrada de 300 kHz.

#Questão 413970 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

#Questão 413971 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

No que concerne à porta lógica AND, pode-se afirmar que:

A) Uma porta AND tem necessariamente duas entradas e uma saída.

B) Uma porta AND tem necessariamente duas ou mais entradas e duas saídas.

C) Uma porta AND de duas entradas tem oito possibilidades de entrada.

D) Se uma entrada de uma porta AND de duas entradas está em nível lógico alto, a saída indicará o nível lógico alto.

E) Se uma entrada de uma porta AND de duas entradas está em nível lógico alto, a saída indicará o nível lógico da outra entrada.

#Questão 413973 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

O processo de teste a que um sistema VLSI é submetido após a fabricação tem por objetivo:

A) Verificar se o projeto foi realizado corretamente.

B) Assegurar que as especificações funcionais foram atingidas.

C) Assegurar que o processo de fabricação foi feito sem falhas.

D) Separar os dispositivos melhores para serem vendidos mais caro.

E) Melhorar o yeild do processo de fabricação.

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