Questões de Engenharia Eletrônica do ano 2004

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Listagem de Questões de Engenharia Eletrônica do ano 2004

#Questão 424725 - Engenharia Eletrônica, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Pleno 2 (Código B4)

A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.

Circuitos autotemporizados (self-timed) podem ser utilizados para acelerar estruturas em pipeline, na medida em que reduzem o tempo médio de execução nos estágios, enquanto que no pipeline síncrono o relógio é dimensionado pelo pior caso.

#Questão 424726 - Engenharia Eletrônica, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Pleno 2 (Código B4)

A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.

Um elemento de circuito autotemporizado é o elemento C de Muller. Esse elemento comporta-se como um latch com duas entradas, sendo que a saída só muda quando as entradas forem iguais, senão, mantém o valor anterior.

#Questão 424727 - Engenharia Eletrônica, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Pleno 2 (Código B4)

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O teste para diagnóstico é utilizado durante a depuração da pastilha e seu objetivo é identificar e localizar falhas.

#Questão 424728 - Engenharia Eletrônica, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Pleno 2 (Código B4)

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O teste paramétrico verifica parâmetros não-discretos, como margem de ruído e atrasos de propagação em variadas condições de trabalho. Esse teste utiliza métodos diferentes do teste funcional, que opera com valores lógicos.

#Questão 424729 - Engenharia Eletrônica, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Pleno 2 (Código B4)

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.

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