Questões Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

#Questão 413754 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Instrumentos de medida devem ser construídos e conectados no circuito de modo a não afetarem o sinal a ser medido. Qual das alternativas abaixo descreve como um multímetro digital deve ser construído e montado em um circuito de modo a medir a corrente que está passando?

A) Deve possuir elevada resistência de entrada e ser montado em paralelo com o circuito.

B) Deve possuir baixa resistência de entrada e ser montado em paralelo com o circuito.

C) Deve possuir elevada resistência de entrada e ser montado em série com o circuito.

D) Deve possuir baixa resistência de entrada e ser montado em série com o circuito.

E) O multímetro digital não mede corrente pois é um instrumento de medida de sinais digitais.

#Questão 413760 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Qual dos processos abaixo não é utilizado na fabricação de placas de circuito impresso com tecnologia SMT (Surface Mount Technology)?

A) Projeto da interconexão entre os componentes.

B) Definição das interconexões na placa.

C) Perfuração da placa para fixação dos componentes.

D) Montagem dos componentes na superfície da placa.

E) Refusão da solda para estabelecimento do contato elétrico entre a placa e os componentes.

#Questão 413761 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A iniciativa RoHS / WEEE, que determina a eliminação do uso de materiais nocivos ao meio ambiente, teve um impacto significativo na indústria de semicondutores, pois ela requer o banimento de qual elemento?

A) Ouro.

B) Platina.

C) Prata.

D) Estanho.

E) Chumbo.

#Questão 413763 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

#Questão 413765 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Qual é a técnica de inspeção não destrutiva capaz de detectar defeitos em montagens Flip-Chip?

A) Microscopia eletrônica de varredura.

B) Microscopia eletrônica de transmissão.

C) Microscopia de força atômica.

D) Tomografia de Raios-X.

E) Fluorescência de Raios-X.

Questões Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

Pesquise questões de concurso nos filtros abaixo