Questões de Engenharia Eletrônica

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A simulação de falhas consiste na simulação da ocorrência de falhas de determinado modelo, comparando-se o resultado do teste com o da simulação sem falhas. Essa simulação pode ser corretamente utilizada para a verificação da cobertura de falhas, isto é, do percentual de falhas detectadas por estímulos aplicados.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

O ruído em um sinal digitalizado aumenta quando o comprimento de palavra digital do conversor analógico/digital é aumentado.