Questão Q424734
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Engenharia Eletrônica Geral
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Tecnologista Pleno 2 (Código B4) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 • Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue...

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

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