Questões de Engenharia Eletrônica

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Falhas permanentes ocorrem devido a defeitos de fabricação e, ao contrário de falhas intermitentes, podem ser determinadas pelos testes offline de produção.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

No circuito abaixo, o vetor (A, B, C, D) = (0, 1, 1, 0) detecta a falha A s-a-1.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.

A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.

Um elemento de circuito autotemporizado é o elemento C de Muller. Esse elemento comporta-se como um latch com duas entradas, sendo que a saída só muda quando as entradas forem iguais, senão, mantém o valor anterior.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O teste paramétrico verifica parâmetros não-discretos, como margem de ruído e atrasos de propagação em variadas condições de trabalho. Esse teste utiliza métodos diferentes do teste funcional, que opera com valores lógicos.