Questões sobre Eletrônica Digital

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Listagem de Questões sobre Eletrônica Digital

#Questão 414005 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

No contexto de design for debug and diagnosis (DFD), faz-se as seguintes afirmações.

I. O processo de diagnóstico e debug exige um alto grau de controlabilidade e observabilidade dos nós internos de um circuito de forma que muitas das técnicas de DFT como scan são ajustadas para este fim. Exemplos deste tipo de técnicas especialmente ajustadas para diagnóstico e debug são blocos lógicos e sinais de relógio reconfiguráveis.

II. A única forma de extrair as informações de debug e diagnóstico é através de cadeias de scan dedicadas para isto.

III. Pode-se empregar de focused ion beam (FIB) para a edição ou pequenos consertos em um circuito integrado visando isolar ou corrigir possíveis defeitos.

#Questão 414007 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:

#Questão 418620 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, CESPE / CEBRASPE, 2012, TJ/RO, Analista Judiciário

Dizer que o usuário adquiriu um computador que utiliza processador cuja palavra é de 64 bits é equivalente a dizer que o tamanho da palavra nesse processador, em bytes, é igual a

#Questão 418621 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, CESPE / CEBRASPE, 2012, TJ/RO, Analista Judiciário

Assumindo que A e B sejam variáveis binárias, assinale a opção correspondente à expressão booleana válida.

#Questão 418622 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, CESPE / CEBRASPE, 2012, TJ/RO, Analista Judiciário

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