Questões de Engenharia Elétrica

#Questão 413978 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

No contexto de geração de vetores de teste para um dado sistema afirma-se o que segue.

I. A geração dos vetores de teste é independente do tipo falha, basta conhecer a função lógica que relaciona as entradas e saídas primárias do sistema.

II. Considerando um sistema digital combinacional, se todos os vetores de testes que detectam uma falha F1 também detectam a F2, pois ambas possuem a mesma função lógica de falha. Diz-se então que elas são falhas equivalentes.

III. Um circuito lógico implementa sua função lógica de forma correta sob o ponto de vista estático. Mas, em algum ponto do mesmo, pode ocorrer atraso excessivo de propagação do sinal ou lentidão na transição. A captura deste tipo de falha somente pode ser feita através de um teste “at speed” observando diretamente o sinal em questão em um osciloscópio.

A) Apenas I e II são verdadeiras.

B) Apenas II e III são verdadeiras.

C) Apenas I e III são verdadeiras.

D) Apenas a II é verdadeira.

E) Apenas a III é verdadeira.

#Questão 413980 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Qual é o objetivo de se realizar uma simulação falhas?

A) Ter certeza que o circuito funciona em qualquer circunstância.

B) Introduzir um conjunto conhecido de falhas e verificar se o circuito é imune a elas.

C) Buscar um conjunto de vetores de entrada e de saída que possa auxiliar na identificação de possíveis defeitos de fabricação.

D) Verificar se o circuito está funcionando conforme as especificações.

E) Evitar o surgimento de falhas do tipo excesso de atraso.

#Questão 413981 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Que tipo de falha tipicamente necessita um teste de excesso de atraso?

A) Falha do tipo stuck-at 1.

B) Falha do tipo stuck-at 0.

C) Falha do tipo circuito aberto.

D) Falha do tipo circuito fechado.

E) Falha do tipo resistiva causando um caminha reagir mais lentamente.

#Questão 413983 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Digital, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

#Questão 413989 - Engenharia Elétrica, Eletrônica Analógica, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

O método de medida de IDDq (corrente quiescente total) é mais indicado para diagnosticar falhas do tipo:

A) Stuck-at ‘1’.

B) Stuck-at ‘0’.

C) Excesso de atraso (delay faults).

D) Excesso de atraso em circuitos sequenciais.

E) Falha em transistor do tipo curto circuito.

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