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No contexto de geração de vetores de teste para um dado sistema afirma-se o que segue.

I. A geração dos vetores de teste é independente do tipo falha, basta conhecer a função lógica que relaciona as entradas e saídas primárias do sistema.

II. Considerando um sistema digital combinacional, se todos os vetores de testes que detectam uma falha F1 também detectam a F2, pois ambas possuem a mesma função lógica de falha. Diz-se então que elas são falhas equivalentes.

III. Um circuito lógico implementa sua função lógica de forma correta sob o ponto de vista estático. Mas, em algum ponto do mesmo, pode ocorrer atraso excessivo de propagação do sinal ou lentidão na transição. A captura deste tipo de falha somente pode ser feita através de um teste “at speed” observando diretamente o sinal em questão em um osciloscópio.