Questões de Engenharia Física da FUNRIO

#Questão 426162 - Engenharia Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

#Questão 568676 - Engenharia Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Imagens de microscopia eletrônica de varredura são muito usadas na inspeção de circuitos integrados. Nesse contexto são verdadeiras as seguintes afirmativas, EXCETO:

A) O contraste entre as estruturas de composição química diferente pode ser evidenciado com o uso de imagem de elétrons retroespalhados.

B) Nas energias típicas do feixe (10-30keV) as camadas dielétricas do circuito se tornam praticamente transparentes e o efeito de carregamento é desprezível.

C) Topografia pode ser evidenciada inclinando-se a amostra em relação ao feixe.

D) Raios-x característicos são gerados no volume de interação do feixe, e permitem uma análise química com sua detecção.

E) Circuitos integrados podem ser danificados pelo feixe de elétrons do microscópio.

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