Questões de Engenharia Eletrônica da CESPE / CEBRASPE

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A controlabilidade de um sinal é um conceito relativo à testabilidade de circuitos que indica a capacidade de se propagar uma informação a partir de um nodo interno até as saídas do circuito.

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O auto-teste integrado (BIST) é um mecanismo que integra funções de teste no próprio chip, simplificando e reduzindo o custo do teste. Por outro lado, apresenta a desvantagem de aumentar o custo da pastilha e pode reduzir o rendimento (yield) de fabricação.

A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

Um sinal analógico limitado em banda pode ser reconstruído a partir de suas amostras obtidas a uma taxa igual ou inferior à máxima freqüência existente no espectro do sinal.