Questões de Física do ano 2007

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Listagem de Questões de Física do ano 2007

#Questão 484283 - Física, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2007, INMETRO, Pesquisador em Metrologia

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

Em um microscópio óptico, o contraste é uma propriedade inerente da amostra e, portanto, não depende da interação da luz com a própria amostra.

#Questão 484285 - Física, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2007, INMETRO, Pesquisador em Metrologia

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

O contraste da imagem de materiais isotrópicos pode ser melhorado utilizando-se microscópios de luz polarizada, pois tais materiais são capazes de transformar luz polarizada em luz não polarizada.

#Questão 484287 - Física, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2007, INMETRO, Pesquisador em Metrologia

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

As lentes do MET são feitas de material semicondutor, geralmente silício, e, portanto, não apresentam aberrações.

#Questão 484289 - Física, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2007, INMETRO, Pesquisador em Metrologia

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

#Questão 484291 - Física, Geral, CESPE / CEBRASPE, 2007, INMETRO, Pesquisador em Metrologia

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.

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