Questão Q484289
2007 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Física Geral
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Microscopia - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007 • Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microsc...

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

Comentários

Faça login para participar da discussão.

Cadastre-se Gratuitamente
Carregando comentários...