Uma infraestrutura de teste possui entre outros equipamentos um analisador de espectro e um osciloscópio para o teste paramétrico de sistemas. Podemos dizer que:

O teste de um sistema com 4 entradas necessita um conjunto de vetores de testes conforme mostrados abaixo.

T0 = 0X01

T1 = 1XX1

T2 = X001

T3 = X111

Usando o conceito de compactação dos vetores de teste acima, qual a menor sequência de vetores que surtiria o mesmo efeito na presença de falhas simples?

No contexto da implementação física de um circuito integrado afirma-se o que segue. I. O efeito de eletromigração (EM) é decorrente da alta densidade de corrente e alternância de temperatura nas linhas de interconexão sendo uma das causas de ruptura ou falha mecânica das mesmas. II. O emprego de bibliotecas de células com múltiplos Vt (tensões de limiar dos transistores) objetiva a redução da corrente de fuga (leakage) em geometrias com canal mais curto. III. Efeitos de interferência entre trilhas de roteamento têm impacto no incremento do atraso na linha afetado degradando a integridade do sinal.

A etapa de síntese da malha de distribuição de relógio (CTS – clock tree synthesis) de um sistema digital deve ser feita:

No contexto do fluxo de projeto de um circuito integrado afirma-se o que segue.

I. O resultado da síntese lógica de um sistema digital é um netlist de portas lógicas que implementa a funcionalidade modelada em HDL.

II. O emprego de linguagem HLD Verilog para modelamento de um sistema nos dá um nível de abstração dos detalhes relativos à sua implementação física.

III. Tendo o projeto passado pela análise estática de temporização (STA – static timing analysis ) e pela checagem de equivalência lógica (LEC – logic equivalence checking) durante a síntese lógica não há necessidade de repetir estes passos novamente após o leiaute.

No projeto de um sistema em chip (SoC), é empregado um grande número de núcleos e blocos de propriedade intelectual. Uma estratégia para lidar com a testabilidade deste tipo de sistema é:

Dentro das possíveis arquiteturas para DFT afirma-se o que segue.

I. Para possibilitar o autoteste integrado (‘built-in self test’) em um sistema, é necessária a presença de um bloco de geração automática de vetores de testes e compactação do resultado de teste com o respectivo mecanismo de analise de assinatura de falha.

II. O emprego de técnicas de boundary scan (JTAG) só é possível em sistemas cuja a técnica de testabilidade é o full scan (escaneamento completo).

III. Em mecanismos de compactação da resposta baseados em Multiple-Input Signature Register (MISR), emprega-se uma topologia baseada em Linear-Feedback-Shift-Register (LSFR) que possibilita a detecção de falhas e o diagnóstico preciso das falhas existentes bem como a reconstrução dos vetores aplicados.

... Ver mais

O método de medida de IDDq (corrente quiescente total) é mais indicado para diagnosticar falhas do tipo:

Dada uma memória embarcada em um sistemas em chip (SoC) organizada em 210 palavras de 08 bits cada. Quantos ciclos, no mínimo, de leitura e escrita são necessários para detectar a presença de falhas de transição em alguma posição.