Questões de Engenharia Cartográfica e de Agrimensura do ano 2004

Pesquise questões de concurso nos filtros abaixo

Listagem de Questões de Engenharia Cartográfica e de Agrimensura do ano 2004

Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.

Análise em SIG é um processo de busca de padrões nos dados ou de relações entre feições.

Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.

Criadas em um SIG como feições lineares, as superfícies de densidade são ideais para mostrar onde feições de pontos ou linhas estão concentradas.

Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.

Na classificação do tipo quantil, cada classe tem um número igual de feições.

Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.

O modelo de dados TIN é vetorial. Esse modelo é muito usado para a visualização de superfícies.

Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.

A criação de zonas-tampão tem como objetivo a análise de uma superfície na qual o tamanho de cada célula (pixel) é importante.

Navegue em mais matérias e assuntos

{TITLE}

{CONTENT}

{TITLE}

{CONTENT}
Estude Grátis