Questão
Q378991
Prova: Concurso Departamento de Polícia Federal (DPF) (4ª edição) - Perito Criminal Federal Área Engenharia Cartográfica - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004
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Departamento de Polícia Federal (DPF) (4ª edição)
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Com referência a SIG, julgue os seguintes itens.
Análise em SIG é um processo de busca de padrões nos dados ou de relações entre feições.
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