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Q413832
Um possível método de conexão entre um dispositivo semicondutor e um circuito externo consiste em realizar a conexão do primeiro diretamente ao segundo. Neste método, os terminais do chip recebem deposições de porções de solda, antes mesmo de sua separação do wafer. Posteriormente, o chip é virado com seus terminais sobre o circuito externo e a soldagem é realizada pelo derretimento da solda, normalmente através de ar quente. Tal método é conhecido como:
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Q413830
O processo de teste de circuitos integrados em uma linha de produção é um passo que consome grande parte do tempo de fabricação. Além disso, é fundamental para a qualidade dos circuitos produzidos. Várias técnicas foram desenvolvidas para permitir um melhor desempenho neste quesito. Quanto a estas técnicas, analise as seguintes sentenças: I) Um dos métodos para contornar alguns problemas encontrados na etapa de testes é o DFT (Design For Testing), aplicado ainda na fase de projeto do produto. II) No método DFT, o produto é projetado de forma que suas arquiteturas permitam um teste de parâmetros realizado em condições de fábrica em vez de testar sua forma real de operação. Em relação a estas sentenças, pode-se afirmar que:
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Q413829
Analise as sentenças abaixo sobre testes na fabricação de circuitos integrados: I) Durante a fase conhecida como “Wafer Testing”, os circuitos integrados que não forem aprovados em todos os padrões de teste são descartados. II) Os testes realizados em chips, ainda no wafer, são realizados por amostragem, de acordo com teorias estatísticas permitindo uma avaliação média de cada lote. III) Um probe card é um meio de conexão física entre os circuitos integrados fabricados em um wafer e um sistema eletrônico de teste. Estão corretas as sentenças:
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Q413827
Deseja-se obter um modelo funcional de uma saída de um circuito em análise de corrente contínua (DC) quando em regime estacionário. Considerando-se que se pode aproximar o comportamento desta saída como linear para qualquer valor de carga resistiva utilizada, decidiu-se utilizar um equivalente Thevenin como modelo simplificado. Para utilizar este modelo, são necessários 2 (dois) parâmetros: a tensão da fonte e a resistência série. Para a tensão da fonte, está sendo considerado o valor máximo de tensão obtido quando há ausência de carga. Dispõe-se de um voltímetro, um amperímetro, uma carga resistiva fixa e uma variável, e uma fonte variável. Para encontrar o valor da resistência série, o procedimento correto é:
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Q413825
Um circuito integrado se encontra em teste de consumo, ou seja, deseja-se quantificar esta característica em algumas situações de uso. Sabe-se que este circuito integrado recebe alimentação de uma fonte DC por meio de seus pinos 8 e 16, conectados, respectivamente, ao negativo e ao positivo da fonte. Para se estimar a potência consumida da fonte, dispõe-se de um resistor de precisão com valor de 0,1 Ω, uma fonte com indicação de tensão fornecida e um voltímetro. Analise os procedimentos abaixo: I) Conectar o resistor em paralelo com a fonte. II) Conectar o resistor em série com a fonte e o CI. III) Medir a tensão sobre o resistor. IV) Medir a tensão entre os pinos 16 e 8 do CI. Para obter a estimativa da potência consumida:
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Q413823
Durante a análise de um circuito alimentado por uma fonte de tensão contínua, um amperímetro DC foi colocado em série com um capacitor. Já com o circuito em regime estacionário, o amperímetro indica um valor de 0,010. O valor medido no equipamento indica que: alguns circuitos apresentam uma característica conhecida como corrente de fuga. Em um circuito alimentado por uma fonte de tensão de corrente contínua, é correto afirmar que:
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Q413822
Para avaliar um defeito em um circuito, é necessário realizar a análise de continuidade elétrica entre 2 (dois) pontos de um circuito. Analise as assertivas abaixo e assinale a opção correta: I) Um teste de continuidade sempre pode ser realizado em um circuito durante seu funcionamento. II) Através da inserção de uma fonte de corrente em um ponto de um circuito e medindo-se a corrente em outro ponto, é possível testar se existe continuidade elétrica entre estes 2 (dois) pontos sem a necessidade de se alterar características físicas do circuito.
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Q413813
O sinal considerado indesejável na transmissão de uma mensagem, ocasionando perda de informação durante o transporte da mensagem entre a fonte e o destinatário, recebe o nome de
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Q413811
Em caso de oferta de produtos por telefone ou reembolso postal, é necessário, para a possível responsabilização sobre danos, que o nome do fabricante e seu endereço constem
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Q413809
Qual dos processos abaixo não está diretamente relacionado com as etapas de fabricação de um circuito integrado em um processo CMOS padrão moderno?