Para o ensaio e testes de equipamentos são usados instrumentos de medição que possuem uma série de características metrológicas chamadas sistemáticas e estatísticas. O conhecimento dessas características é fundamental para a boa utilização desses instrumentos e para a interpretação e análise dos resultados. Julgue os itens subseqüentes acerca das características metrológicas dos instrumentos de medição.

A resolução de um instrumento de medição é entendida como o maior valor que esse instrumento pode medir.

Para o ensaio e testes de equipamentos são usados instrumentos de medição que possuem uma série de características metrológicas chamadas sistemáticas e estatísticas. O conhecimento dessas características é fundamental para a boa utilização desses instrumentos e para a interpretação e análise dos resultados. Julgue os itens subseqüentes acerca das características metrológicas dos instrumentos de medição.

A tendência de um instrumento de medição é a estimativa do erro sistemático desse instrumento, calculada a partir de um número restrito de medições.

Para o ensaio e testes de equipamentos são usados instrumentos de medição que possuem uma série de características metrológicas chamadas sistemáticas e estatísticas. O conhecimento dessas características é fundamental para a boa utilização desses instrumentos e para a interpretação e análise dos resultados. Julgue os itens subseqüentes acerca das características metrológicas dos instrumentos de medição.

O sensor é um instrumento ou elemento de uma cadeia de medição que indica o valor de uma medição.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

Se um lote de 1.250.000 unidades desse tipo de transistor for observado durante uma hora, então um desses transistores falhará ao longo desse período.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

Um transistor observado desde o instante inicial apresenta probabilidade de não falhar em até 1.250.000 horas superior a 33%.

Durante a fase caracterizada pela parte I da curva, as falhas podem ocorrer, principalmente, devido a problemas ocorridos na manufatura, ou relativos a materiais e componentes.

Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria diferente em relação ao pro... Ver mais

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

Normalmente, a cada determinação numérica de uma estimativa da taxa de falhas, é possível definir um intervalo de confiança correspondente. Essa informação fornece uma segurança da estimação, sendo possível, assim, e... Ver mais

A figura acima mostra a árvore de falhas para análise de confiabilidade associada à iluminação de uma sala de controle iluminada por duas lâmpadas ligadas em paralelo. Suponha que o não-funcionamento de pelo menos uma lâmpada deixa a sala às escuras. Diante dessa suposição, julgue o item abaixo.

Os denominados eventos primários que podem deixar a sala às escuras são: falta de energia e ambas as lâmpadas estão estragadas.