Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de...

#Questão 546345 - Legislação dos Órgãos Federais, Estaduais, Distritais e Municipais e dos Órgãos Internacionais, Ministério da Ciência e Tecnologia - MCT, CESPE / CEBRASPE, 2004, MCT, Tecnologista Júnior (Código E14)

Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.

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