Questão
Q546345
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Tecnologista Júnior (Código E14) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004
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Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de...

Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.
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