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Q426149
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Q426147
Uma técnica metrológica de grande importância em microfabricação é a microscopia de força atômica. Com relação ao uso dessa ferramenta em microeletrônica NÃO se pode afirmar o seguinte:
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Q426145
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Q426143
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Q426141
Informação estrutural é muito importante tanto para o desenvolvimento de novos dispositivos, quanto para controle de processos em microfabricação. Tendo em vista o uso de raios X em microeletrônica aponte qual afirmativa NÃO é verdadeira dentre as seguintes alternativas:
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Q426140
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Q426138
Silício se cristaliza na estrutura do diamante, com parâmetro de rede igual a 5,43 Å. A estrutura do diamante é composta de dois cubos de face centrada deslocados de ¼ ao longo da sua diagonal principal. Qual a densidade de sítios atômicos na superfície (110) de um monocristal de silício?
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Q426136
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Q426135
Em um sistema de deposição de filmes, alumínio é depositado sobre silício por evaporação térmica. Os substratos são colocados em um suporte hemisférico de 20 cm de raio, em cujo centro se localiza um aquecedor de tungstênio do tipo “boat”, no qual uma gota de alumínio de 0,1 g foi colocada. A pressão de base do sistema é de 1 x 10-4 Pa. Qual a espessura do filme depositado, ao se extinguir a carga após 10 minutos? Al tem massa molar de 26,9815 g/mol, e densidade de 2,70 g.cm-3 @ 300K.
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Q426133
