Informação estrutural é muito importante tanto para o des...

Questão Q426141

2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo Área Engenharia Física (ETEA - PESDES) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

Informação estrutural é muito importante tanto para o desenvolvimento de novos dispositivos, quanto para controle de processos em microfabricação. Tendo em vista o uso de raios X em microeletrônica aponte qual afirmativa NÃO é verdadeira dentre as seguintes alternativas:

A Através de difração de raios X é possível medir a tensão mecânica nas camadas de um dispositivo. B O difratograma de raios X é usado para identificar quimicamente os elementos presentes nos filmes depositados. C As espessuras de camadas epitaxiais em semicondutores avançados podem ser obtidas do seu difratograma de raios X D Os tamanhos dos grãos das trilhas metálicas dos circuitos integrados podem ser medidos por difração de raios X. E Através de difração de raios X o cristal de silício é orientado para o processo de fatiamento em wafers e identificação.

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