151 Q413971
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
No que concerne à porta lógica AND, pode-se afirmar que:
152 Q413970
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Supondo que um multiplexador possua 16 entradas de sinal, o número de entradas de seleção necessárias, excluindo a entrada ENABLE (habilita), é igual a
153 Q413968
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Um flip-flop JK com J = 1 e K =1 recebe na entrada um relógio de 150 kHz. A saída Q é igual a
154 Q413967
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
155 Q413957
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
156 Q413955
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Em um projeto de uma memória ROM (Read Only Memory) MOS (Metal-Oxide-Semiconductor) de 16 palavras x 4 bits, deseja-se armazenar a soma de 4 bits de duas variáveis de 2 bits. Para tal, serão necessários:
157 Q413765
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual é a técnica de inspeção não destrutiva capaz de detectar defeitos em montagens Flip-Chip?
158 Q413763
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual das alternativas não é um processo para a formação de bumps em CI's a serem montados pela técnica de flip-chip?
159 Q413743
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Como é denominado o teste de parâmetros não discretos, como margens de ruído e atrasos de propagação, que não operam com valores lógicos?
160 Q412428
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)