Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
Os valores de voltagem de aceleração dos elétrons em METs utilizados na caracterização microestrutural de materiais está na faixa de 10 V a 100 V.














A corrente na carga R, em A, é:
A corrente máxima que ele poderá fornecer no secundário, em A, será:
A corrente máxima no primário, em A, é:
Se o transformador alimentar uma carga de 550 W, a corrente no secundário, em A, será: