A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...

Engenharia Física - Geral - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) - 2012 - Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:
  • A. O canhão de íons usualmente é de Ga+, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.
  • B. Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.
  • C. Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga+, a amostra é atacada.
  • D. Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI.
  • E. A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.
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Questões extras

Considerando os fósseis e o processo de fossilização, julgue os itens que se seguem.

Os fósseis são restos de partes moles de organismos (animais ou vegetais) que foram preservados em sedimentos.

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NÃO se trata de procedimento cujo julgamento compete originariamente ao Supremo Tribunal Federal (STF) a(o)

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Os Princípios Fundamentais de Contabilidade foram incorporados à Estrutura Conceitual da Contabilidade como premissas. Dentre estas, está INCORRETO afirmar que

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