A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...

#Questão 426154 - Engenharia Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:

Navegue em mais questões

{TITLE}

{CONTENT}

{TITLE}

{CONTENT}
Estude Grátis