A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...

Questão Q426154

2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo Área Engenharia Física (ETEA - PESDES) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:

A O canhão de íons usualmente é de Ga⁺, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida. B Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons. C Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga⁺, a amostra é atacada. D Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI. E A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.

Comentários

Faça login para participar da discussão.

Cadastre-se Gratuitamente

Carregando comentários...

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...

Comentários

Compartilhar Questão