Determinado laboratório atua no desenvolvimento, na especificação e na qualificação de materiais para a indústria aeroespacial. Considerando a necessidade de avaliação da competência técnica e garantia da qualidade por parte desse laboratório, julgue os itens seguintes, acerca de níveis de qualificação de materiais e processos especiais.

A qualificação de materiais deve ser feita com uso equipamentos calibrados e rastreados, de modo a garantir que os ensaios sejam realizados com a exatidão apropriada.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

Se um lote de 1.250.000 unidades desse tipo de transistor for observado durante uma hora, então um desses transistores falhará ao longo desse período.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

A vida útil média de um transistor de silício como o descrito é inferior a 60.000 dias.

Durante a fase caracterizada pela parte I da curva, as falhas podem ocorrer, principalmente, devido a problemas ocorridos na manufatura, ou relativos a materiais e componentes.

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria difere... Ver mais

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

Para o ensaio em questão, não é possível estimar o tempo médio entre falhas — MTBF (mean time between failures).

A figura acima mostra a árvore de falhas para análise de confiabilidade associada à iluminação de uma sala de controle iluminada por duas lâmpadas ligadas em paralelo. Suponha que o não-funcionamento de pelo menos uma lâmpada deixa a sala às escuras. Diante dessa suposição, julgue o item abaixo.

Os denominados eventos primários que podem deixar a sala às escuras são falta de energia e ambas as lâmpadas estão estragadas.

Julgue os itens que se seguem, acerca de disponibilidade associada a sistema ou equipamento.

Para efeito da definição de disponibilidade de um sistema ou equipamento, é considerada somente a parada de funcionamento de tal sistema ou equipamento para ações de manutenção corretiva.

O processo de manutenção centrada em confiabilidade (MCC) associado a um item físico de um sistema eletrônico sob manutenção compreende basicamente oito etapas. Julgue os itens a seguir, com relação à etapa de análise de modos e efeitos de falhas de um item físico do sistema eletrônico.

Nessa etapa, o objetivo é identificar os modos de falha dominantes dos itens críticos de manutenção.