No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
No circuito abaixo, o vetor (A, B, C, D) = (0, 1, 1, 0) detecta a falha A s-a-1.
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Falhas permanentes ocorrem devido a defeitos de fabricação e, ao contrário de falhas intermitentes, podem ser determinadas pelos testes offline de produção.
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Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.
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O teste paramétrico verifica parâmetros não-discretos, como margem de ruído e atrasos de propagação em variadas condições de trabalho. Esse teste utiliza métodos diferentes do teste funcional, que opera com valores lógicos.
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O teste para diagnóstico é utilizado durante a depuração da pastilha e seu objetivo é identificar e localizar falhas.
A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.
Um elemento de circuito autotemporizado é o elemento C de Muller. Esse elemento comporta-se como um latch com duas entradas, sendo que a saída só muda quando as entradas forem iguais, senão, mantém o valor anterior.
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Circuitos autotemporizados (self-timed) podem ser utilizados para acelerar estruturas em pipeline, na medida em que reduzem o tempo médio de execução nos estágios, enquanto que no pipeline síncrono o relógio é dimensionado pelo pior caso.
A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.
Circuitos assíncronos eliminam a necessidade de um relógio global. Esses circuitos são constituídos por módulos independentes, sincronizados aos pares por relógios locais.
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Em sistemas VLSI síncronos, o deslizamento do relógio (clock skewing) constitui, normalmente, um problema, porém, em certos casos, ele pode ser utilizado para acelerar a vazão em estruturas do tipo pipeline.
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Um parâmetro a ser analisado na temporização de um circuito combinacional é o seu caminho crítico, ou seja, o caminho de maior atraso, o que passa pelo maior número de portas lógicas.
