A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.
A região de convergência da transformada z de seqüências definidas à direita corresponde ao exterior de um círculo de raio superior ao pólo de maior módulo dessa seqüência.
A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.
O ruído em um sinal digitalizado aumenta quando o comprimento de palavra digital do conversor analógico/digital é aumentado.
A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.
O ruído de quantização corresponde ao erro da aproximação de amplitude de um sinal analógico quando representado na forma discreta no tempo com um comprimento finito de palavra digital.
A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.
Um sinal analógico limitado em banda pode ser reconstruído a partir de suas amostras obtidas a uma taxa igual ou inferior à máxima freqüência existente no espectro do sinal.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
O auto-teste integrado (BIST) é um mecanismo que integra funções de teste no próprio chip, simplificando e reduzindo o custo do teste. Por outro lado, apresenta a desvantagem de aumentar o custo da pastilha e pode reduzir o rendimento (yield) de fabricação.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
A controlabilidade de um sinal é um conceito relativo à testabilidade de circuitos que indica a capacidade de se propagar uma informação a partir de um nodo interno até as saídas do circuito.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
A simulação de falhas consiste na simulação da ocorrência de falhas de determinado modelo, comparando-se o resultado do teste com o da simulação sem falhas. Essa simulação pode ser corretamente utilizada para a verificação da cobertura de falhas, isto é, do percentual de falhas detectadas por estímulos aplicados.
