5661 Q413757
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
A varredura de um osciloscópio deve ser sincronizada com o sinal que está sendo medido, em particular para sinais periódicos. Quando a fonte de sincronismo for ajustada para LINE (linha), qual é a frequência do sinal de sincronismo que estará sendo usado?
5662 Q413755
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Um osciloscópio digital é utilizado para medir dois sinais senoidais. O primeiro sinal apresenta 4 divisões no eixo horizontal entre dois picos máximos consecutivos, e o segundo sinal apresenta somente 2 divisões no eixo horizontal entre dois picos máximos consecutivos. Sabendo que a base de tempo do osciloscópio está ajustada para 1 μs/divisão (1 x 10-6 s/divisão), qual é a frequência desses sinais?
5663 Q413754
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Instrumentos de medida devem ser construídos e conectados no circuito de modo a não afetarem o sinal a ser medido. Qual das alternativas abaixo descreve como um multímetro digital deve ser construído e montado em um circuito de modo a medir a corrente que está passando?
5664 Q413752
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
O diodo semicondutor de junção pn é um dos elementos básicos na fabricação de circuitos integrados. Qual é o efeito do diodo numa corrente alternada de radiofrequência (RF) que o atravessa?
5665 Q413751
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual medida elétrica permite avaliar a presença de defeitos e cargas no dielétrico de porta de estruturas Metal-isolantesemicondutor (MIS)?
5666 Q413749
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual técnica de análise é um método não invasivo para a identificação e determinação da estrutura cristalina de materiais?
5667 Q413747
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual deve ser a mínima taxa de amostragem para que amostras obtidas permitam reconstituir um sinal analógico?
5668 Q413745
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Um módulo Multi-chip-module (MCM) formado por 4 circuitos integrados pré-testados (Known-good-dies) devem seguir qual protocolo de teste após o encapsulamento?
5669 Q413743
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Como é denominado o teste de parâmetros não discretos, como margens de ruído e atrasos de propagação, que não operam com valores lógicos?
5670 Q413742
Engenharia Elétrica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Qual estilo de projeto de circuitos integrados é caracterizado pelo uso de uma matriz pré-definida sobre a qual o circuito é implementado através da definição das interconexões entre os elementos da matriz?