Questão Q406368
2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Engenharia de Produção e Egenharia Industrial Geral
Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo Área Engenharia de Produção (ETEA - QGC) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

No controle por atributos num sistema de controle e garan...

No controle por atributos num sistema de controle e garantia da qualidade das especificações de produtos para um empreendimento da indústria eletrônica, podem ser detectados os seguintes defeitos: 1) Os que impedem funcionamento do serviço ou do componente eletrônico e são denominados defeitos críticos. 2) Os principais são os que podem impedir o funcionamento do componente a curto ou longo prazo, sem serem caracterizados como defeitos críticos. 3) Os secundários são os que não impedem o funcionamento do componente, mas não permitem que esse cumpra totalmente os requisitos especificados. Quantos desses defeitos estão corretamente indicados?

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