Questão
Q115010
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007
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Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Acerca da formação de filmes por deposição química em fas...
Acerca da formação de filmes por deposição química em fase vapor (CVD), julgue os itens a seguir.
As taxas de deposição obtidas por CVD são bem inferiores às obtidas por PVD, nas tecnologias VLSI (very large scale integration).Comentários
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