Questão Q115010
2007 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007 Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)

Acerca da formação de filmes por deposição química em fas...

Acerca da formação de filmes por deposição química em fase vapor (CVD), julgue os itens a seguir.

As taxas de deposição obtidas por CVD são bem inferiores às obtidas por PVD, nas tecnologias VLSI (very large scale integration).

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