Questão Q115009
2007 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Química Geral
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007 • Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)

Julgue os itens subseqüentes, referentes às propriedades...

Julgue os itens subseqüentes, referentes às propriedades de filmes finos.

Na oxidação térmica de lâminas de silício, ocorre a difusão do silício da lâmina, através do óxido nativo, para reagir com o agente oxidante.

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