869311 Q484313
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Os raios X emitidos pela amostra analisada por uma microssonda são direcionados para o detector por um sistema de lentes magnéticas.

869312 Q484311
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A microssonda usualmente empregada na microanálise de materiais utiliza um canhão eletrônico para incidir um feixe de elétrons sobre a amostra.

869313 Q484309
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

Os fótons que compõem a fluorescência de raios X de uma amostra têm energia maior do que as partículas utilizadas na excitação da própria amostra.

869314 Q484307
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

A avaliação da orientação preferencial de cristalitos em materiais sólidos policristalinos exige a utilização da técnica de difração de raios X associada a uma microssonda.

869315 Q484305
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

Uma amostra cristalina sob tensão uniforme terá os seus picos de difração deslocados em relação àqueles de uma amostra não sujeita a tensões.

869316 Q484303
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

A difração de raios X obtida pela técnica de Debye-Scherrer exige o uso de um feixe de raios X policromáticos.

869317 Q484301
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

Na técnica de Laue de difração de raios X, a amostra deve estar na forma de pó.

869318 Q484299
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

O comprimento de onda mínimo no espectro de raios X gerados em um tubo comercial é inversamente proporcional à voltagem de aceleração dos elétrons.

869319 Q484297
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

É possível gerar raios X fazendo com que um feixe de elétrons com energia cinética da ordem de dezenas de keV incida sobre um alvo metálico.

869320 Q484295
Física
Ano: 2007
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

O princípio de funcionamento do AFM é a medida das deflexões da ponta de prova do microscópio enquanto essa ponta varre a superfície da amostra sob análise.