A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

A difração de raios X obtida pela técnica de Debye-Scherrer exige o uso de um feixe de raios X policromáticos.

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

Na técnica de Laue de difração de raios X, a amostra deve estar na forma de pó.

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

O comprimento de onda mínimo no espectro de raios X gerados em um tubo comercial é inversamente proporcional à voltagem de aceleração dos elétrons.

A difração de raios X é uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais, tendo grande aplicação em campos como geologia e ciência dos materiais. Julgue os próximos itens, relacionados à geração e à difração de raios X.

É possível gerar raios X fazendo com que um feixe de elétrons com energia cinética da ordem de dezenas de keV incida sobre um alvo metálico.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

O princípio de funcionamento do AFM é a medida das deflexões da ponta de prova do microscópio enquanto essa ponta varre a superfície da amostra sob análise.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

No STM, é possível obter informações a partir da corrente elétrica que flui entre a ponta de prova do microscópio e a amostra.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

As lentes do MET são feitas de material semicondutor, geralmente silício, e, portanto, não apresentam aberrações.

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

O contraste da imagem de materiais isotrópicos pode ser melhorado utilizando-se microscópios de luz polarizada, pois tais materiais são capazes de transformar luz polarizada em luz não polarizada.