Imagens que tenham menor faixa de desfoco (-0,5 a -1,5 ?m), ou seja, que favorecerão frequências espaciais de menor resolução e maior contraste.

Imagens que tenham maior faixa de desfoco (-2,0 a -3,5 ?m), ou seja, que favorecerão frequências espaciais de maior resolução e menor contraste.

Imagens que tenham menor faixa de desfoco (-0,5 a -1,5 ?m), ou seja, que favorecerão frequências espaciais de maior resolução e maior contraste.

Imagens que tenham menor faixa de desfoco (-0,5 a -1,5 ?m), ou seja, que favorecerão frequências espaciais de maior resolução e menor contraste.

Imagens que tenham maior faixa de desfoco (-2,0 a -3,5 ?m), ou seja, que favorecerão frequências espaciais de menor resolução e menor contraste. 

Átomos com carga negativa, como o oxigênio, diminuem o fator de espalhamento de elétrons em todos os ângulos de espalhamento, resultando em menores alterações nos mapas de potencial de Coulomb e reduzindo o dano por radiação.

A carga negativa aumenta o fator de espalhamento de elétrons em ângulos de espalhamento mais alto, mas tem pouco efeito sobre o dano por radiação, já que este é mais dependente da energia do feixe do que das interações de carga.

A carga negativa produz fatores de espalhamento de elétrons negativos em ângulos baixos, levando a potenciais negativos nos mapas de Coulomb e a um aumento do dano por radiação devido à maior interação elétron-matéria.

Átomos com carga negativa afetam minimamente os fatores de espalhamento de elétrons e o dano por radiação, pois as configurações modernas de microscopia de transmissão são projetadas para compensar variações na carga atômica.

A carga negativa em átomos aumenta o fator de espalhamento de elétrons e protege a amostra de danos por radiação, uma vez que os elétrons espalhados são desviados de estruturas críticas da molécula

0,75 e ~80. 

1,50 e ~160. 

1,50 e ~80. 

0,75 e ~160.

A resolução lateral do sistema será, aproximadamente, 174 nm, indicando que estruturas menores do que esse valor não podem ser resolvidas.

O aumento da abertura numérica da objetiva para 1,6 diminuiria o valor da resolução lateral alcançada, tornando a imagem menos detalhada.

O uso de um laser de excitação no infravermelho melhoraria a resolução lateral do microscópio confocal, devido ao menor espalhamento da luz.

A microscopia confocal supera a barreira de difração e permite a visualização direta de estruturas subnanométricas sem técnicas complementares.