1371 Q424355
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Considere que um engenheiro eletrônico deva desenvolver diversos sistemas de instrumentação, nos quais usará diferentes sensores para medir grandezas físicas. Com base nessa situação, julgue os itens que se seguem.

Dispositivos digitais para medida de posição ou deslocamento frequentemente utilizam, na saída, o código de Gray, que é empregado em razão de apenas 2 bits variarem entre dois códigos adjacentes, minimizando erros de leitura.

1372 Q424354
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a padrões de medição, aferição e calibração bem como a temas correlatos, julgue os itens subsequentes.

Alguns padrões de referência são estabelecidos por meio de medidas materializadas, cujo valor de referência obedece a níveis excelentes de incerteza, tais como uma massa padrão de 1 kg.

1373 Q424353
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a padrões de medição, aferição e calibração bem como a temas correlatos, julgue os itens subsequentes.

Enquanto o ampere consiste em uma unidade de base no Sistema Internacional de Unidades (SI), o volt e o watt constituem-se em unidades derivadas.

1374 Q424352
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

No caso de materiais isolantes, a banda de energia dos elétrons da camada de valência está separada da banda de energia da camada de condução por uma grande lacuna (gap) de energia, denominada banda proibida.

1375 Q424351
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Considere que a resistência de contato associada a determinado conector seja medida por meio de tensões de medição próximas de 0 volt. Nessa situação, se for observada uma relação quadrática entre a corrente e a tensão, então este é um contato ôhmico, em que a corrente é diretamente proporcional à área do contato entre os dois metais.

1376 Q424350
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Se um campo magnético uniforme e em sentido e direção únicos for aplicado a um material semicondutor do tipo P, no qual as lacunas se deslocam em uma direção perpendicular ao campo magnético, as lacunas sofrerão deflexão de módulo proporcional à intensidade do campo magnético e independente da velocidade das lacunas. Nessa situação, a deflexão ocorrerá na mesma direção do campo magnético.

1377 Q424349
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Caso um transistor bipolar do tipo NPN funcione na região ativa, a junção base-emissor deverá ser polarizada diretamente e a coletor-base, reversamente.

1378 Q424348
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Em um transistor bipolar do tipo NPN, a base é composta, geralmente, por material do tipo P. A concentração de lacunas na base é muito maior que a concentração de elétrons livres no emissor, maximizando a recombinação na base. Ainda para maximizar a recombinação na base, busca-se garantir que a base tenha a maior largura possível. Esse aumento da recombinação resulta no aumento do β (beta) do transistor, que é uma característica geralmente desejada em transistores bipolares.

1379 Q424347
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Considere que um multímetro que permite testar transistores bipolares esteja sendo usado no modo de medição de resistência para o teste de um transistor do tipo NPN. Nessa situação, caso a ponta de prova com maior potencial seja colocada na base do transistor e a de menor potencial, no emissor, a resistência medida será muito menor do que a resistência medida ao se colocar a ponta de prova com menor potencial na base e a de maior potencial, no emissor — assumindo-se que o transistor não esteja danificado.

1380 Q424346
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Com relação a materiais elétricos e magnéticos e a componentes implementados com esses materiais, julgue os itens de 55 a 64.

Materiais cuja permeabilidade magnética (μr) corresponde a 1 são classificados como materiais magnéticos, ao passo que os materiais que não possuem essa permeabilidade são classificados como não magnéticos.