1241 Q425284
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Um produto é composto por 3 (três) componentes, sendo que os mesmos possuem as seguintes confiabilidades: 0,8; 0,9; 0,9. Considerando uma combinação de componentes em série em que a falha de qualquer componente gera falha do produto, a confiabilidade do produto é igual a
1242 Q425282
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
A disponibilidade operacional de um equipamento que, em 1 (um) dia, tem um tempo de operação igual a 16 horas e tempo de inoperância de 8 horas, é igual a
1243 Q425280
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Um indicador variante da taxa de falha largamente utilizado é o tempo médio entre falhas (Mean Time Between Failure - MTBF). Pode-se dizer que o MTBF é
1244 Q425279
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Sabe-se que a taxa de falha média de um componente eletrônico com taxa de operação de 0,5 observada durante 6 meses é de 0,1 falha/mês. O número médio de falhas previsto para esse componente durante um ano é
1245 Q425277
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Considere as afirmativas abaixo.

I - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, se o auditor não encontrar não conformidades na Pré-Auditoria, a empresa pode receber o certificado.

II - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, se o auditor não encontrar não conformidades na Pré-Auditoria, a empresa não pode receber o certificado.

III - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, se o auditor não encontrar não conformidades na Pré-Auditoria, a empresa pode receber o certificado, no caso de recertificação.

Assinale a opção que apresenta somente a(s) afirmativa(s) correta(s).
1246 Q425275
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Considere as afirmativas abaixo.

I - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, uma determinada empresa pode abdicar da Pré- Auditoria e ir direto para a Auditoria de Certificação.

II - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, uma determinada empresa não pode abdicar da Pré- Auditoria antes de ir para a Auditoria de Certificação.

III - Tratando-se de um processo de certificação de um sistema de gestão, uma determinada empresa não pode abdicar da Pré-Auditoria antes de ir para a Auditoria de Certificação, no caso de recertificação.

Assinale a opção que apresenta apenas a(s) afirmativa(s) correta(s).
1247 Q425274
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Assinale a alternativa que apresenta o processo que assegura ao consumidor que um determinado produto cumpre com a(s) norma(s) especificadas no seu certificado.
1248 Q425272
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
O processo no qual uma entidade externa e independente, devidamente acreditada, emite um certificado que atesta que determinado produto, processo ou serviço está em conformidade com os requisitos de um dado referencial é chamado de
1249 Q425270
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
A metodologia DMAIC do Programa de Qualidade Seis Sigma é utilizada para projetos focados para melhorar processos já existentes. Assinale a alternativa que apresenta a fase da metodologia DMAIC em que a técnica de Projeto de Experimentos (DOE) tem aplicação como ferramenta de otimização de processos.
1250 Q425268
Engenharia Eletrônica
Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Na metodologia de trabalho 5S, prevenir o aparecimento de supérfluos e da desordem é um objetivo particular da