1811 Q424076
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)

Os CLPs da Figura 1 estão conectados numa rede do tipo mestre-escravo. O CLP mestre M realiza uma varredura cíclica a todos os CLPs escravos Ei (i =1..n) para realizar o intercâmbio de dados. A comunicação por rede permite que os CLPs compartilhem variáveis. O ciclo de varredura da rede é independente do ciclo de varredura interno dos CLPs, este composto por três etapas: (i) atualização da memória de entrada e saída local; (ii) atualização da memória de dados referentes à rede; e (iii) execução do programa de aplicação do usuário. Na etapa (ii), os dados recebidos por uma comunicação de rede são atualizados na memória interna e os dados referentes aos outros CLPs são repassados para transmissão. O intercâmbio de dados entre diferentes estações escravas Ei é feito por intermédio do CLP m...

1812 Q424075
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)

Um dado CLP possui as instruções INT, INIT, RET, END e IORB, descritas a seguir. A colocação da instrução INT no cabeçalho do programa principal no CLP indica o uso da função de interrupção temporizada. Esta função faz com que o fluxo normal de execução do ciclo de varredura seja interrompido a cada 10ms para ser executada uma subrotina iniciada pela instrução INIT e terminada pela instrução RET. A subrotina deve ser inserida imediatamente após o final do programa principal, sendo este sinalizado pela instrução END, conforme ilustrado na Figura 1. Após o término da execução da subrotina, o CLP retorna à execução do programa de aplicação principal no ponto onde foi interrompido, conforme ilustrado na Figura 2. A função de interrupção opera tanto durante a execução do programa principal q...

1813 Q424074
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)

O seguinte pseudocódigo é uma forma simplificada do algoritmo de busca depht first num grafo direcionado. O procedimento principal dfs(N,Adj) recebe como entrada o inteiro N e a matriz Adj, de dimensões NxN. Adj(u,v) representa o elemento da linha u e coluna v da matriz Adj. O procedimento dfs(N,Adj) faz a chamada recursiva do procedimento dfs-visit(u), onde u é um inteiro de 1 a N. Ao término dos dois procedimentos, os vetores cor e b, indexados pelos inteiros u de 1 até N, são preenchidos de acordo com a regra de busca prevista no algoritmo.

O resultado do vetor b após a aplicação do procedimento principal para N=6

1814 Q424073
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)
Um conjunto x(n) de 400 amostras resultou da discretização de um sinal com período de amostragem de 0,1 ms. Usando- se o algoritmo FFT (Fast Fourier Transform) com uma janela de 512 amostras, foi calculada a Transformada Discreta de Fourier da seqüência x(n) e obteve-se a seqüência X(k), onde k representa a freqüência discreta. A que freqüência, em Hz, corresponde a amostra X(k) para k=64?
1815 Q424072
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)

O circuito da Figura 1 é um conversor CC-CC denominado Boost, alimentado por uma tensão Vi em volts, cuja forma de onda é apresentada na Figura 2. Considerando o seu funcionamento em regime permanente, é correto afirmar que

1816 Q424071
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Fundação CESGRANRIO (CESGRANRIO)
1817 Q423319
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)
Considerando que uma bancada de instrumentos para testes de componentes possui equipamentos como multímetro, osciloscópio,fonte de tensão e gerador de sinais, julgue os itens de 71 a 75.

Considere que o circuito em paralelo apresentado na figura a seguir corresponde à representação da medição de tensão em um dos resistores. Nesse caso, a medição indicará uma tensão de 4,5 V, com alimentação de 9 V.

1818 Q423318
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)
Considerando que uma bancada de instrumentos para testes de componentes possui equipamentos como multímetro, osciloscópio,fonte de tensão e gerador de sinais, julgue os itens de 71 a 75.

É correto afirmar que o CI inserido no protoboard mostrado na figura abaixo está em posição de curto-circuito.

1819 Q423317
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)
Considerando que uma bancada de instrumentos para testes de componentes possui equipamentos como multímetro, osciloscópio,fonte de tensão e gerador de sinais, julgue os itens de 71 a 75.

Considere que uma fonte de alimentação de 9 V foi inicialmente aplicada em circuito composto por um switch e um capacitor C1, como mostra a figura a seguir. Levando em conta a posição do switch e o fator temporal da medição, é correto afirmar que a curva mostrada corresponde à curva de medição.

1820 Q423316
Engenharia Eletrônica
Ano: 2008
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)
Considerando que uma bancada de instrumentos para testes de componentes possui equipamentos como multímetro, osciloscópio,fonte de tensão e gerador de sinais, julgue os itens de 71 a 75.

A figura a seguir corresponde a uma operação de medição de tensão através do resistor.