Dado o desenvolvimento de um sistema integrado VLSI, a in...

Questão Q568373

2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Engenharia Elétrica Eletrônica Analógica

Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012 - Analista Administrativo Área Engenharia Elétrica (ETEA - PRTEVA) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012

Dado o desenvolvimento de um sistema integrado VLSI, a inserção de blocos ou estruturas para facilitar o teste do circuito integrado ocorre durante:

A a especificação do sistema. B o processo de síntese e mapeamento do sistema no nível de portas lógicas com a habilitação das primitivas de teste. C o processo de verificação e extração pós-leiaute do circuito com as primitivas de teste habilitadas. D a coloção do anel de pads de teste. E a verificação lógica e funcional visando a geração de padrões de teste.

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