Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO2 sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO2 e Si, respectivamente.

Alternativa A: Microscopia eletrônica de transmissão (TEM).

Alternativa B: Microscopia eletrônica de varredura (SEM).

Alternativa C: Microscopia de força atômica (AFM).

Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em sec...

Questão Q568364

2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Engenharia Elétrica Princípios de Ciências dos Materiais

Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012 - Analista Administrativo Área Engenharia Elétrica (ETEA - CQUALF) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012

Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO₂ sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO₂ e Si, respectivamente.

A Microscopia eletrônica de transmissão (TEM). B Microscopia eletrônica de varredura (SEM). C Microscopia de força atômica (AFM). D Elipsometria. E Perfilometria.

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