Questão Q568362
2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Engenharia Elétrica Dispositivos Eletrônicos
Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012 - Analista Administrativo Área Engenharia Elétrica (ETEA - CORRPL) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC 2012

Comparando-se os danos (defeitos) produzidos na camada su...

Comparando-se os danos (defeitos) produzidos na camada superficial de material durante corrosão RIE convencional (acoplamento capacitivo) e ICP, observa-se o seguinte:

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