Questão Q424407
2008 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) Instituto Nacional de Tecnologia (INT)
Engenharia Eletrônica Geral
Prova: Concurso Instituto Nacional de Tecnologia (INT) - Pesquisador Adjunto I Microscopia Eletrônica - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2008 • Instituto Nacional de Tecnologia (INT)

Entre os sinais produzidos na interação do feixe com o ma...

Entre os sinais produzidos na interação do feixe com o material, um tipo particularmente importante para estudos analíticos que é gerado quando os elétrons altamente energéticos do feixe interagem com os elétrons das camadas orbitais do átomo, é (são):

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