Questão Q418506
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Tecnologista Pleno 3 (Código B2) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

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A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.

Medidas de capacitância versus tensão em estruturas MIS permitem avaliar a presença de defeitos no dielétrico e na interface dielétrico-semicondutor.

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