Questão Q33968
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Tecnologista Pleno 2 (Código B4) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de...

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de fabricação de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A ocorrência do fenômeno denominado latchup, em circuitos fabricados a partir da tecnologia CMOS, está relacionada à existência, nesses circuitos, de estruturas n-p-n-p parasitas. Para minimizar a ocorrência desse fenômeno, as resistências de poço e de substrato devem ser minimizadas.

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