Questão
Q115016
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007
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Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Acerca da formação de filmes finos por deposição física e...
Acerca da formação de filmes finos por deposição física em fase vapor (PVD), julgue os itens subseqüentes.
O controle de deposição no processo de pulverização catódica (sputtering) é superior ao obtido no processo de evaporação.
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