Questão
Q114995
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007
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Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Julgue os próximos itens, relativos a superfícies....
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A microscopia de ponta de prova é ineficaz e por isso pouco utilizada na análise topográfica de uma superfície.
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