Questão
Q114937
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Superfícieis - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007
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Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Julgue os itens subseqüentes, a respeito das característi...
Julgue os itens subseqüentes, a respeito das características de instrumentos de medição.
Durante uma análise microscópica por feixe de elétrons, de um nanodispositivo eletrônico, o fluxo de cargas elétricas de superfície no dispositivo não é alterado.
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