Questão
Q569698
Prova: Concurso Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer (CTI) 2008 - Tecnologista Área Energia Solar com Foco em Energia Fotovoltaica (Pleno - Prova 2 - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2008
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Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer (CTI) 2008
Julgue os itens a seguir, relativos às técnicas de caract...
Julgue os itens a seguir, relativos às técnicas de caracterização de superfícies e de caracterização elétrica de semicondutores.
A difração de raios X é uma ferramenta muito usada para a observação da superfície de um material, pois, como não possuem carga elétrica, os raios X podem interagir mais facilmente com o mesmo.
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