A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise...

Questão Q485698

2012 FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Física Geral

Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo Área Físico (ETEA - LABANA) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012 • Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

A O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância. B Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica. C Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão. D Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico. E Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.

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