Questão
Q485691
Prova: Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC - Analista Administrativo Área Físico (ETEA - LABANA) - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) do ano 2012
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Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC
Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise...
Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativaComentários
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